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Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

(Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
Ellipsometry is the method of choice to determine the properties of surfaces and thin films. It provides comprehensive and sensitive characterization in contactless and non-invasive measurements. This book gives a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces. In conjunction with the development of functional organic, meta- and hybrid materials for new optical, electronic, sensing and biotechnological devices and fabrication advances, the ellipsometric analysis of their optical and material properties has progressed rapidly in the recent years.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
06.11.2013
Sprache
Englisch
EAN
9783642401275
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Surface Sciences
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
363
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Bandzählung
52
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) TGM - Materialwissenschaft PNRX - Oberflächenchemie und Adsorption PNR - Physikalische Chemie PHJ - Optische Physik TTB - Angewandte Optik TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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