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X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

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Der Umwelt zuliebe

X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

(Taschenbuch, Englisch)

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Beschreibung
X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective…  utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.
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Technische Daten

Erscheinungsdatum
23.08.2016
Sprache
Englisch
EAN
9783662522127
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Optical Sciences
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
361
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Amorphous Semiconductors, Disordered Semiconductors, Nanoparticles in Semiconductors, Optical Properties of Semiconductors, Porous Semiconductors, Structural Properties of Semiconductors, Vibrational Anisotropy, Vibrational Properties of Semiconductors, X-ray Absorption Spectroscopy, XAS Book
Thema-Inhalt
TJFD - Elektronische Geräte und Materialien TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie TGMT - Werkstoffprüfung PHV - Angewandte Physik PHK - Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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