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Der Umwelt zuliebe

Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismail (Taschenbuch, Englisch)

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Beschreibung
This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
22.09.2011
Sprache
Englisch
EAN
9781441995476
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Sonderedition
Nein
Autor
Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismail
Seitenanzahl
89
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Analog Circuits and Signal Processing, Built-in-Self-Calibration, Built-in-Self-Test, Embedded Systems, LTE 4G, Low Noise Amplifiers, Nanometer Wireless Radio, RF and Millimeter Wave Integrated Circuits, Testing Integrated Circuits, WIMAX
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile) TJF - Elektronik UYS - Digitale Signalverarbeitung (DSP)
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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