Bis zu 50 % günstiger als neu 3 Jahre rebuy Garantie Professionelles Refurbishment
ElektronikMedien
Tipps & News
AppleAlle anzeigen
TabletsAlle anzeigen
HandyAlle anzeigen
Fairphone
AppleAlle anzeigen
iPhone Air Generation
GoogleAlle anzeigen
Pixel Fold
HonorAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
Honor SerieY-Serie
NothingAlle anzeigen
OnePlusAlle anzeigen
OnePlus 11 GenerationOnePlus 12 Generation
SamsungAlle anzeigen
Galaxy XcoverWeitere Modelle
SonyAlle anzeigen
Weitere Modelle
XiaomiAlle anzeigen
Weitere Modelle
Tablets & eBook ReaderAlle anzeigen
Google
AppleAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
MatePad Pro Serie
MicrosoftAlle anzeigen
XiaomiAlle anzeigen
Kameras & ZubehörAlle anzeigen
ObjektiveAlle anzeigen
System & SpiegelreflexAlle anzeigen
WearablesAlle anzeigen
Fitness TrackerAlle anzeigen
SmartwatchesAlle anzeigen
Xiaomi
Konsolen & ZubehörAlle anzeigen
Lenovo Legion GoMSI Claw
NintendoAlle anzeigen
Nintendo Switch Lite
PlayStationAlle anzeigen
XboxAlle anzeigen
Audio & HiFiAlle anzeigen
KopfhörerAlle anzeigen
FairphoneGoogle
LautsprecherAlle anzeigen
Beats by Dr. DreGoogleYamahatonies
iPodAlle anzeigen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Structure Analysis by Small-Angle X-Ray and Neutron Scattering

L.A. Feigin, D.I. Svergun (Taschenbuch, Englisch)

Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
Small-angle scattering of X rays and neutrons is a widely used diffraction method for studying the structure of matter. This method of elastic scattering is used in various branches of science and technology, includ ing condensed matter physics, molecular biology and biophysics, polymer science, and metallurgy. Many small-angle scattering studies are of value for pure science and practical applications. It is well known that the most general and informative method for investigating the spatial structure of matter is based on wave-diffraction phenomena. In diffraction experiments a primary beam of radiation influences a studied object, and the scattering pattern is analyzed. In principle, this analysis allows one to obtain information on the structure of a substance with a spatial resolution determined by the wavelength of the radiation. Diffraction methods are used for studying matter on all scales, from elementary particles to macro-objects. The use of X rays, neutrons, and electron beams, with wavelengths of about 1 A, permits the study of the condensed state of matter, solids and liquids, down to atomic resolution. Determination of the atomic structure of crystals, i.e., the arrangement of atoms in a unit cell, is an important example of this line of investigation.
Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
ab 28,99 €
Derzeit nicht verfügbar
Derzeit nicht verfügbar

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Technische Daten


Erscheinungsdatum
01.06.2013
Sprache
Englisch
EAN
9781475766264
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
L.A. Feigin, D.I. Svergun
Seitenanzahl
335
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
X-ray, condensed matter, condensed matter physics, crystal, electron, molecular biology, neutron diffraction, polymer, scattering
Thema-Inhalt
PHVN - Biophysik PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!