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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
Jiann-Shiun Yuan (Taschenbuch, Englisch)
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Beschreibung
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF… wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations. 53,49 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
21.04.2016
Sprache
Englisch
EAN
9789811008825, 9789811008825
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Sonderedition
Nein
Autor
Jiann-Shiun Yuan
Seitenanzahl
106
Auflage
1
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Device Reliaiblity, Hot Electron Effect, Oxide Breakdown, Process Variation, RF Circuit Reliability
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
TJF - Elektronik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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