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CMOS Test and Evaluation
Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen (Taschenbuch, Englisch)
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Beschreibung
CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers… statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range. 139,09 €
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
10.09.2016
Sprache
Englisch
EAN
9781493947027
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen
Seitenanzahl
424
Auflage
1
Einbandart
Taschenbuch
Buch Untertitel
A Physical Perspective
Schlagwörter
CMOS manufacturing test and quality control, CMOS microelectronic test structures, CMOS products, CMOS statistical data analysis, CMOS test, quality control, reliability, safety and risk
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
TJFD - Elektronische Geräte und Materialien
TNKS - Sicherheitssysteme und Brandmeldeanlagen
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Transparenz & Sicherheit
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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