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Der Umwelt zuliebe
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
05.07.2017
Sprache
Englisch
EAN
9789811010729
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
Computer Architecture and Design Methodologies
Sonderedition
Nein
Autor
Zheng Wang, Anupam Chattopadhyay
Seitenanzahl
197
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Autorenporträt
Dr.-Ing. Zheng Wang earned the Bachelor degree in physics from Shanghai Jiao Tong University (SJTU), China and Master degree in Electronic Engineering from Technische Universität München (TUM), Germany. From 2008 till 2009, he worked in the mobile sector of Infineon Technologies AG in Munich (currently Intel Mobile Communications). In 2010 he joined as a research associate in the Institute for Communication Technologies and Embedded Systems (ICE) of RWTH-Aachen University, Germany, where he obtained the PhD (Dr.-Ing.) in the year 2015. From 2015 till 2016, he worked in the Bio-inspired Reconfigurable Analog INtegrated (BRAIN) Systems Lab, Nanyang Technological University, Singapore in the field of neuromorphic ASIC and hardware security. In 2017 he joined the Center for Automotive Electronics, Shenzhen Institutes of Advanced Technology as an Assistant Professor.
Schlagwörter
Architectural Reliability Estimation, System- Level Reliability Exploration, Architectural Fault Tolerance, Processor Design, Asymmetric Reliability, System-Level Design, Probabilistic Error Masking Matrix (PeMM), Node Fault Tolerance (NFT), Reliability Task Mapping, Statistical Error Confinement
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
UK - Computerhardware
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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