Bis zu 50 % günstiger als neu 3 Jahre rebuy Garantie Professionelles Refurbishment
ElektronikMedien
Tipps & News
AppleAlle anzeigen
TabletsAlle anzeigen
HandyAlle anzeigen
Fairphone
AppleAlle anzeigen
iPhone Air Generation
GoogleAlle anzeigen
Pixel Fold
HonorAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
Honor SerieY-Serie
NothingAlle anzeigen
OnePlusAlle anzeigen
OnePlus 11 GenerationOnePlus 12 Generation
SamsungAlle anzeigen
Galaxy XcoverWeitere Modelle
SonyAlle anzeigen
Weitere Modelle
XiaomiAlle anzeigen
Weitere Modelle
Tablets & eBook ReaderAlle anzeigen
Google
AppleAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
MatePad Pro Serie
MicrosoftAlle anzeigen
XiaomiAlle anzeigen
Kameras & ZubehörAlle anzeigen
ObjektiveAlle anzeigen
System & SpiegelreflexAlle anzeigen
WearablesAlle anzeigen
Fitness TrackerAlle anzeigen
SmartwatchesAlle anzeigen
Xiaomi
Konsolen & ZubehörAlle anzeigen
Lenovo Legion GoMSI Claw
NintendoAlle anzeigen
Nintendo Switch Lite
PlayStationAlle anzeigen
XboxAlle anzeigen
Audio & HiFiAlle anzeigen
KopfhörerAlle anzeigen
FairphoneGoogle
LautsprecherAlle anzeigen
Beats by Dr. DreGoogleYamahatonies
iPodAlle anzeigen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities

Pei Zhang (Taschenbuch, Englisch)

Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
An energetic charged particle beam introduced to an rf cavity excites a wakefield therein. This wakefield can be decomposed into a series of higher order modes and multipoles, which for sufficiently small beam offsets are dominated by the dipole component. This work focuses on using these dipole modes to detect the beam position in third harmonic superconducting S-band cavities for light source applications. A rigorous examination of several means of analysing the beam position based on signals radiated to higher order modes ports is presented. Experimental results indicate a position resolution, based on this technique, of 20 microns over a complete module of 4 cavities. Methods are also indicated for improving the resolution and for applying this method to other cavity configurations. This work is distinguished by its clarity and potential for application to several other international facilities. The material is presented in a didactic style and is recommended both for students new to the field, and for scientists well-versed in the field of rf diagnostics.
Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
ab 35,99 €
Derzeit nicht verfügbar
Derzeit nicht verfügbar

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Technische Daten


Erscheinungsdatum
23.08.2016
Sprache
Englisch
EAN
9783319346168
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
Springer Theses
Sonderedition
Nein
Autor
Pei Zhang
Seitenanzahl
118
Einbandart
Taschenbuch
Buch Untertitel
The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!