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Streifenprojektionsmesstechnik – Grundlagen und aktuelle Forschung
Markus Kästner (Taschenbuch, Deutsch)
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Optischer Zustand
Beschreibung
Die Streifenprojektion hat sich in den letzten Jahren als Messverfahren zur schnellen und flächenhaften Erfassung von optisch rauen Oberflächen etabliert. Durch die gute Skalierbarkeit der Größe des Messvolumens ergeben sich Anwendungsmöglichkeiten in unterschiedlichen Bereichen und geometrischen Größenordnungen. Moderne Streifenprojektionsmesssysteme sind in der Lage mehrere Millionen Messpunkte… in einer Messzeit von unter einer Sekunde erfassen. Hierdurch wird eine umfassende Datenbasis zur Charakterisierung der gemessenen Bauteiloberfläche generiert. Das Anwendungsspektrum der Streifenprojektionsmesstechnik reicht von der flächenhaften Erfassung umformend hergestellter Bauteile im industriellen Bereich, über die Dokumentation archäologischer Artefakte bis hin zur Charakterisierung von Wundheilungsverläufen.
Im Rahmen dieser Arbeit werden zunächst die technischen Grundlagen der Streifenprojektionsmesstechnik betrachtet, bevor beispielhaft verschiedene aktuelle wissenschaftliche Arbeiten auf diesem Gebiet vorgestellt werden. Diese befassen sich mit der Erforschung von Methoden zur Geometrieerfassung von Umformwerkzeugen bzw. umformend hergestellter Bauteile mittels verschiedener Varianten der Streifenprojektion. Zudem werden verschiedene Ansätze der virtuellen Streifenprojektion im Hinblick auf die Charakterisierung von Kalibrierverfahren, der Abschätzung der Messunsicherheit, der Messablaufplanung sowie der Erzeugung inverser Projektionsmuster behandelt. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
18.10.2016
Sprache
Deutsch
EAN
9783959001014
Herausgeber
TEWISS
Serien- oder Bandtitel
Berichte aus dem imr
Sonderedition
Nein
Autor
Markus Kästner
Seitenanzahl
195
Auflage
1
Einbandart
Taschenbuch
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