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X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy
John J. Friel, Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin (Gebundene Ausgabe, Englisch)
Optischer Zustand
Beschreibung
This book provides the reader with a discussion of X-ray microanalysis and imaging techniques. It is meant to be an introduction for newcomers to the fields and a reference for experienced microscopists. This third edition has been largely rewritten, reflecting the huge advances in hardware and software technology. Table of contents: I. Introduction II. Electron-specimen interaction and X-ray… generation III. X-ray measurement IV. Qualitative analysis V. Quantitative analysis VI. Precision and accuracy VII. Operating conditions in the microscope VIII. Digital imaging: Processing and image math IX. Image and feature analysis X. X-ray maps and line scans XI. Application examples Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
18.04.2017
Sprache
Englisch
EAN
9783864606748
Herausgeber
Westarp BookOnDemand
Sonderedition
Nein
Autor
John J. Friel, Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin
Seitenanzahl
118
Auflage
3
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
nanoanalysis, nanoscience, EPMA, chemical, microprobe, spectrometry, SDD, microanalysis
Thema-Inhalt
TB - Technologie, allgemein
Höhe
279 mm
Breite
21.6 cm
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