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Technische Daten
Erscheinungsdatum
31.01.1997
Sprache
Englisch
EAN
9780306453892
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
259
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Inhaltsverzeichnis
Industrial: Industrial Protein Xray Crystallography: An Overview (J.D. Oliver) Recent Advances in the Use of Synchrotron Radiation for Protein Crystallography (R. Sweet). The Crystal Structures of Some New Forms of Aluminum Fluoride as Determined from Their Synchrotron Powder Diffraction Patterns (R.L. Harlow et al.). Synchrotron Radiationbased Research at the Dow Chemical Company (R.A. Bubeck et al.). Chemical: The Chemical Dynamics Beamline at the Advanced Light Source (A.G. Suits et al.). High Resolution Photoionization and Excitation Using Third Generation Radiation Sources (N. Berrah et al.). Recent Advances toward a Structural Model for the Photosynthetic Oxygenevolving Manganes Cluster (M.J. Latimer et al.). Cesium XAFS Studies of Solution Phase Csionophore Complexation (K.M. Kemner et al.). Materials Science: Studies of Magnetic Material with Circular Polarized Soft Xrays (V. Chakarian et al.). Resonant Photoemission in Polymers (J. Kikuma et al.). Characterization of the Complexation of Uranyl Ions with Humic Acids by Xray Absorption Spectroscopy (T. Reich et al.). Spectroscopic Studies of Lanthanide Coordination in Crystalline and Amorphous Phosphates (L.R. Morss et al.). 5 additional articles. Index.
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