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Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)
Yonghua Rong (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
"Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)" describes the basic concepts and operative techniques of AEM. It focuses on the study of phase transformations and dislocation in deformation by AEM. Further, the book also presents the physical concepts and mathematic analysis for diffraction and crystallography using numerous examples, such as the quantitative… prediction of the orientation relationships in phase transformations. The book is intended for researchers and graduate students in materials science and engineering, and condensed matter physics. Yonghua Rong is a professor at School of Materials Science and Engineering, Shanghai Jiao Tong University, China. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
05.03.2012
Sprache
Englisch
EAN
9783642201189
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Yonghua Rong
Seitenanzahl
552
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Transmission electron microscopy, Imaging, Electron diffraction, TEM, Steel, Martensite, Analytical electron microscopy, AEM
Inhaltsverzeichnis
The Analytical Electron Microscope (AEM).- Specimen Preparation.- Electron Diffraction.- Mathematics Analysis in Electron Diffraction and Crystallography.- Diffraction Contrast.- High Resolution and High Spatial Resolution of Analytical Electron Microscopy.
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