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Ion Spectroscopies for Surface Analysis
(Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
Determining the elemental composition of surfaces is an essential measurement in characterizing solid surfaces. At present, many ap proaches may be applied for measuring the elemental and molecular composition of a surface. Each method has particular strengths and limitations that often are directly connected to the physical processes involved. Typically, atoms and molecules on the surface and in… the near surface region may be excited by photons, electrons, ions, or neutrals, and the detected particles are emitted, ejected, or scattered ions or electrons. The purpose of this book is to bring together a discussion of the surface compositional analysis that depends on detecting scattered or sputtered ions, and the methods emphasized are those where instruments are commercially available for carrying out the analysis. For each topic treated, the physical principles, instrumentation, qualitative analysis, artifacts, quantitative analysis, applications, opportunities, and limita tions are discussed. The first chapter provides an overview of the role of elemental composition in surface science; compositional depth profiling; stimulation by an electric field, electrons, neutrals, or photons and detection of ions; and then stimulation by ions, and detection of ions, electrons, photons, or neutrals. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
30.09.1991
Sprache
Englisch
EAN
9780306437922
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Methods of Surface Characterization
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
469
Auflage
1991
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Einbandart Details
Fadenbindung
Hersteller: Springer Us, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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