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Beschreibung
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for… testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
04.11.2009
Sprache
Englisch
EAN
9781441909374
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
Patrick Girard
Seitenanzahl
171
Auflage
2010
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Einbandart Details
Klebebindung
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