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X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Martin Schmidbauer (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
09.01.2004
Sprache
Englisch
EAN
9783540201793
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Tracts in Modern Physics
Sonderedition
Nein
Autor
Martin Schmidbauer
Seitenanzahl
204
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Mesoscopic systems, Self-organized growth, Semiconductor, Semiconductors nanostructures, X-ray diffuse scattering, quantum dot, scattering
Thema-Inhalt
PHK - Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus PHM - Atom- und Molekularphysik TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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