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Application of External Physical or Electrical Stimulations in Integrated Circuit Testing
Christoph Eichenseer (Taschenbuch, Englisch)
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Beschreibung
New test methods, regarding functional testing or process controlling, are evaluated in this PhD thesis. The methods aim to improve the fault coverage, which is a measure for the test quality, by the application of external physical or electrical stimulations. Stimulations via LED are used to estimate the depletion junction depth, generated by an ion implantation process, or the width of an… epitaxial grown layer. Latter can also be monitored under electrical stress conditions. Stimulations via LASER are used to localize temperature sensitive devices in an IC via heat diffusion. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
15.03.2018
Sprache
Englisch
EAN
9783843935166
Herausgeber
Dr. Hut
Serien- oder Bandtitel
Mikrosystemtechnik
Sonderedition
Nein
Autor
Christoph Eichenseer
Seitenanzahl
150
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Test coverage, Photo current, Defect localization
Thema-Inhalt
T - Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse
TH - Energietechnik, Elektrotechnik und Energiemaschinenbau
THR - Elektrotechnik
Höhe
210 mm
Breite
14.8 cm
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