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High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip

Anupam Chattopadhyay (Taschenbuch, Englisch)

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Beschreibung
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
12.05.2018
Sprache
Englisch
EAN
9789811093210
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
Computer Architecture and Design Methodologies
Sonderedition
Nein
Autor
Anupam Chattopadhyay
Seitenanzahl
197
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 2018
Einbandart
Taschenbuch

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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