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Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Umberto Celano (Taschenbuch, Englisch)

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Beschreibung
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
07.06.2018
Sprache
Englisch
EAN
9783319819068
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
Springer Theses
Sonderedition
Nein
Autor
Umberto Celano
Seitenanzahl
175
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 2016
Einbandart
Taschenbuch

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Hersteller: Birkhäuser, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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