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Der Umwelt zuliebe
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
M.C. Bhuvaneswari (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
10.10.2018
Sprache
Englisch
EAN
9789811324925
Herausgeber
Springer Singapore
Sonderedition
Nein
Autor
M.C. Bhuvaneswari
Seitenanzahl
156
Auflage
1st edition 2019
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Autorenporträt
Dr. S. Jayanthy is a Professor at the Department of Electronics and Communication Engineering, Sri Ramakrishna Engineering College, Coimbatore, India. She received her Master’s and PhD from PSG College of Technology and Anna University, Chennai respectively. Prof. Jayanthy’s research interests are in VLSI Design & Testing, Genetic Algorithms and Embedded Systems. With more than 20 years of teaching experience, she has published 2 chapters and more than 40 research papers in journals and for national and international conferences and has organized a number of workshops and national conferences in the areas of VLSI, Embedded systems and IOT. She is a life member of Indian Society for Technical Education and Institution of Electronics and Telecommunication Engineers
Schlagwörter
Crosstalk delay faults, Very Large Scale Integration, Deterministic Algorithms, Genetic Algorithm, Fuzzy Delay Model
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
UK - Computerhardware
UYF - Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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