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Atomic Force Microscopy
Bert Voigtländer (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book.… Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
03.06.2019
Sprache
Englisch
EAN
9783030136536
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
NanoScience and Technology
Sonderedition
Nein
Autor
Bert Voigtländer
Seitenanzahl
331
Auflage
1st edition 2019
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Scanning Probe Microscopy, Lock-In Technique, Artifacts in SPM, Kelvin Probe Microscopy, Static Atomic Force Microscopy, Dynamic Atomic Force Microscopy, Biological Microscopy
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TBN - Nanotechnologie
TJF - Elektronik
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PDT - Nanowissenschaften
PHVN - Biophysik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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