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Beschreibung
This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed… from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors’ previous volume “Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,” presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field. 235,39 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
04.01.2019
Sprache
Englisch
EAN
9783030092986
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Surface Sciences
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
521
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
Einbandart
Taschenbuch
Buch Untertitel
From Single Charge Detection to Device Characterization
Schlagwörter
Scanning Kelvin Probe Microscopy, Electrostatic Force Microscopy, KPFM techniques for liquid environment, KPFM with atomic resolution, electrostatic field of a cantilever, Kelvin spectroscopy of single molecules
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TGM - Materialwissenschaft
TJF - Elektronik
TGMT - Werkstoffprüfung
PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw.
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
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Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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