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Advanced Computing in Electron Microscopy
Earl J. Kirkland (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high… resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
10.03.2020
Sprache
Englisch
EAN
9783030332594
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Earl J. Kirkland
Seitenanzahl
354
Auflage
3rd edition 2019
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
fast fourier projection theorem, fast fourier transform, multislice methods, scanning transmission electron microscope, theory of electron image formation, transmission electron microscopy, image interpretation, parallel image processing, ABF imaging, Biological Microscopy
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
UYQV - Maschinelles Sehen, Bildverstehen
TGMT - Werkstoffprüfung
PHVN - Biophysik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Palgrave Macmillan, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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