This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and

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Produktinformationen

Technische Daten

Erscheinungsdatum

19.01.2019

Sprache

Englisch

EAN

9783030074982

Herausgeber

Springer International Publishing

Sonderedition

Nein

Autor

Anwar Ul-Hamid

Seitenanzahl

402

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 2018

Einbandart

Taschenbuch

Autorenporträt

Anwar Ul-Hamid received his B.Sc. in Metallurgical Engineering and Materials Science at the University of Engineering & Technology in Lahore, Pakistan in 1991. He received his Ph.D,. for Oxidation of High Temperature alloys/Analytical Electron Microscopy at the Department of Materials Science & Metallurgy at the University of Cambridge in 1996.

Schlagwörter

Scanning electron microscopy, sample preparation for SEM, SEM instrumentation, Specialized imaging techniques, components of the SEM, theory of specimen-beam interaction, Biological Microscopy

Thema-Inhalt

TGMT - Werkstoffprüfung PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie TJF - Elektronik PHVN - Biophysik TBN - Nanotechnologie

Höhe

235 mm

Breite

15.5 cm

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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy

Anwar Ul-Hamid (Taschenbuch, Englisch)

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