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Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Behnam Ghavami (Gebundene Ausgabe, Englisch)

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Beschreibung
This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today’s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
14.10.2020
Sprache
Englisch
EAN
9783030516093
Herausgeber
Springer International Publishing
Sonderedition
Nein
Autor
Behnam Ghavami
Seitenanzahl
114
Auflage
1st edition 2021
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
Analysis and Mitigation Techniques
Schlagwörter
Soft Errors in Modern Electronic Systems, Soft Error Mechanisms, Soft Error Modeling, Soft Error Rate Estimation of VLSI circuits, Process Variation Aware Soft Error Rate Estimation
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile) TJF - Elektronik GPFC - Kybernetik und Systemtheorie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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