Bis zu 50 % günstiger als neu 3 Jahre rebuy Garantie Professionelles Refurbishment
ElektronikMedien
Tipps & News
AppleAlle anzeigen
TabletsAlle anzeigen
HandyAlle anzeigen
Fairphone
AppleAlle anzeigen
iPhone Air Generation
GoogleAlle anzeigen
Pixel Fold
HonorAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
Honor SerieY-Serie
NothingAlle anzeigen
OnePlusAlle anzeigen
OnePlus 11 GenerationOnePlus 12 Generation
SamsungAlle anzeigen
Galaxy XcoverWeitere Modelle
SonyAlle anzeigen
Weitere Modelle
XiaomiAlle anzeigen
Weitere Modelle
Tablets & eBook ReaderAlle anzeigen
Google
AppleAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
MatePad Pro Serie
MicrosoftAlle anzeigen
XiaomiAlle anzeigen
Kameras & ZubehörAlle anzeigen
ObjektiveAlle anzeigen
System & SpiegelreflexAlle anzeigen
WearablesAlle anzeigen
Fitness TrackerAlle anzeigen
SmartwatchesAlle anzeigen
Xiaomi
Konsolen & ZubehörAlle anzeigen
Lenovo Legion GoMSI Claw
NintendoAlle anzeigen
Nintendo Switch Lite
PlayStationAlle anzeigen
XboxAlle anzeigen
Audio & HiFiAlle anzeigen
KopfhörerAlle anzeigen
FairphoneGoogle
LautsprecherAlle anzeigen
Beats by Dr. DreGoogleYamahatonies
iPodAlle anzeigen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

(Taschenbuch, Englisch)

Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). However, ultra-scaled semiconductor devices require nanometer control of the many parameters essential for their fabrication. Through the years, this created a strong alliance between microscopy techniques and IC manufacturing. This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development. The operation principles of many techniques are introduced, and the associated metrology challenges described. Blending the expertise of industrial specialists and academic researchers, the chapters are dedicated to various AFM methods and their impact on the development of emerging nanoelectronic devices. The goal is to introduce the major electrical AFM methods, following the journey that has seen our lives changedby the advent of ubiquitous nanoelectronics devices, and has extended our capability to sense matter on a scale previously inaccessible.
Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
ab 57,99 €
Derzeit nicht verfügbar
Derzeit nicht verfügbar

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Technische Daten


Erscheinungsdatum
25.08.2020
Sprache
Englisch
EAN
9783030156145
Herausgeber
Springer International Publishing
Serien- oder Bandtitel
NanoScience and Technology
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
408
Auflage
1st edition 2019
Einbandart
Taschenbuch
Schlagwörter
Atomic Force Microscope, Nanoscale materials analysis, VLSI metrology, Nanoelectronic materials, Nanoelectronic devices, Ferroelectrics for logic and memory, High-k dielectric materials, Diamond tip for AFM, Scanning capacitance microscopy
Thema-Inhalt
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie TGMT - Werkstoffprüfung TJF - Elektronik TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik) PDT - Nanowissenschaften TBN - Nanotechnologie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!