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Beschreibung
Crystal structure analysis from powder diffraction data has attracted considerable and ever growing interest in the last decades. X-ray powder diffraction is best known for phase analysis (Hanawalt files) dating back to the 30s. In the late 60s the inherent potential of powder diffraction for crystallographic problems was realized and scientists developed methods for using powder diffraction data… at first only for the refinement of crystal structures. With the development of ever growing computer power profile fitting and pattern decomposition allowed to extract individual intensities from overlapping diffraction peaks opening the way to many other applications, especially to ab initio structure determination. Powder diffraction today is used in X-ray and neutron diffraction, where it is a powerful method in neutron diffraction for the determination of magnetic structures. In the last decade the interest has dramatically improved. There is hardly any field of crystallography where the Rietveld, or full pattern method has not been tried with quantitative phase analysis the most important recent application. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
17.11.2005
Sprache
Englisch
EAN
9783540279853
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Georg Will
Seitenanzahl
224
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data
Schlagwörter
Crystal structure analysis, Diffraction, Powder diffraction, Rietveld method, Two-Stage-Method, crystal, crystallography
Thema-Inhalt
RBGG - Petrologie (Gesteinskunde), Petrografie und Mineralogie
TGMT - Werkstoffprüfung
PNK - Anorganische Chemie
PNR - Physikalische Chemie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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