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Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip

Marvin Onabajo, Jose Silva-Martinez (Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
This book describes several techniques to address variation-related design challenges for analog blocks in mixed-signal systems-on-chip. The methods presented are results from recent research works involving receiver front-end circuits, baseband filter linearization, and data conversion. These circuit-level techniques are described, with their relationships to emerging system-level calibration approaches, to tune the performances of analog circuits with digital assistance or control. Coverage also includes a strategy to utilize on-chip temperature sensors to measure the signal power and linearity characteristics of analog/RF circuits, as demonstrated by test chip measurements. Describes a variety of variation-tolerant analog circuit design examples, including from RF front-ends, high-performance ADCs and baseband filters; Includes built-in testing techniques, linked to current industrial trends; Balances digitally-assisted performance tuning with analog performance tuning and mismatch reduction approaches; Describes theoretical concepts as well as experimental results for test chips designed with variation-aware techniques.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
16.04.2014
Sprache
Englisch
EAN
9781489992963
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
Marvin Onabajo, Jose Silva-Martinez
Seitenanzahl
174
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Analog performance tuning, Built-in Testing, Digitally-assisted performance tuning, Mismatch Reduction, On-chip measurement circuits, System on Chip, Variation-Tolerant Analog Circuit Design
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile) TJF - Elektronik UYF - Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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