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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
R.F. Egerton (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope has become the standard reference guide to the instrumentation, physics and… procedures involved, and the kind of results obtainable. Within the last few years, the commercial availability of lens-aberration correctors and electron-beam monochromators has further increased the spatial and energy resolution of EELS. This thoroughly updated and revised Third Edition incorporates these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology. The appendices now contain a listing of inelastic mean free paths and a description of more than 20 MATLAB programs for calculating EELS data. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.10.2014
Sprache
Englisch
EAN
9781489986498
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
R.F. Egerton
Seitenanzahl
491
Auflage
3
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Analytical Electron Microscopy book, EELS materials science book, Inelastic scattering of electrons, Transmission Electron Microscopy book, computing partial ionization cross-sections, image-filtering systems, spectrum deconvolution
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
TBN - Nanotechnologie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Humana, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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