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Der Umwelt zuliebe

VLSI Design and Test

(Broschiert, Englisch)

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Beschreibung

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and

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Produktinformationen

Technische Daten

Erscheinungsdatum

10.12.2013

Sprache

Englisch

EAN

9783642420238

Herausgeber

Springer Berlin

Serien- oder Bandtitel

Communications in Computer and Information Science

Sonderedition

Nein

Seitenanzahl

388

Einbandart

Broschiert

Buch Untertitel

17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

Schlagwörter

SRAM arrays, VLSI, digital circuits, multi-processor architectures, network-on-chip

Thema-Inhalt

UK - Computerhardware UYF - Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf UKN - Netzwerk-Hardware

Höhe

235 mm

Breite

15.5 cm

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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