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Life-Cycle Assessment of Semiconductors
Sarah B. Boyd (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
Life-Cycle Assessment of Semiconductors presents the first and thus far only available transparent and complete life cycle assessment of semiconductor devices. A lack of reliable semiconductor LCA data has been a major challenge to evaluation of the potential environmental benefits of information technologies (IT). The analysis and results presented in this book will allow a higher degree of… confidence and certainty in decisions concerning the use of IT in efforts to reduce climate change and other environmental effects. Coverage includes but is not limited to semiconductor manufacturing trends by product type and geography, unique coverage of life-cycle assessment, with a focus on uncertainty and sensitivity analysis of energy and global warming missions for CMOS logic devices, life cycle assessment of flash memory and life cycle assessment of DRAM. The information and conclusions discussed here will be highly relevant and useful to individuals and institutions. 106,99 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
17.09.2014
Sprache
Englisch
EAN
9781489992239
Herausgeber
Springer US
Sonderedition
Nein
Autor
Sarah B. Boyd
Seitenanzahl
226
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
CMOS, Flash Memory, Life Cycle Assessment, Random Access Memory, Semiconductor Manufacturing
Thema-Inhalt
TJF - Elektronik
TJFD - Elektronische Geräte und Materialien
THV - Alternative und erneuerbare Energiequellen und -technik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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