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Beschreibung
Testing techniques for VLSI circuits are undergoing many exciting changes. The predominant method for testing digital circuits consists of applying a set of input stimuli to the IC and monitoring the logic levels at primary outputs. If, for one or more inputs, there is a discrepancy between the observed output and the expected output then the IC is declared to be defective. A new approach to testing digital circuits, which has come to be known as I DDQ testing, has been actively researched for the last fifteen years. In I DDQ testing, the steady state supply current, rather than the logic levels at the primary outputs, is monitored. Years of research suggests that I DDQ testing can significantly improve the quality and reliability of fabricated circuits. This has prompted many semiconductor manufacturers to adopt this testing technique, among them Philips Semiconductors, Ford Microelectronics, Intel, Texas Instruments, LSI Logic, Hewlett-Packard, SUN microsystems, Alcatel, and SGS Thomson. This increase in the use of I DDQ testing should be of interest to three groups of individuals associated with the IC business: Product Managers and Test Engineers, CAD Tool Vendors and Circuit Designers. Introduction to I DDQ Testing is designed to educate this community. The authors have summarized in one volume the main findings of more than fifteen years of research in this area.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
12.10.2012
Sprache
Englisch
EAN
9781461378129
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Frontiers in Electronic Testing
Sonderedition
Nein
Autor
S. Chakravarty, Paul J. Thadikaran
Seitenanzahl
323
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
LSI, VLSI, circuit design, computer-aided design (CAD), diagnosis, integrated circuit, logic, microsystems
Thema-Inhalt
THR - Elektrotechnik UGC - Computer-Aided Design (CAD)
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

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