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Positron Annihilation in Semiconductors
Reinhard Krause-Rehberg, Hartmut S. Leipner (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. A comprehensive review is given of the different positron techniques, whose application to various kinds of defects, e.g. vacancies, impurity-vacancy complexes and dislocations, is described. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of… these defects is compared to that of other defect-sensitive methods. The most prominent results obtained with positrons in practically all important semiconductors are reviewed. A special chapter of the book deals with positron annihilation as a promising tool for many technological purposes. The theoretical background necessary to understand the experimental results is explained in detail. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.12.2010
Sprache
Englisch
EAN
9783642084034
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Solid-State Sciences
Sonderedition
Nein
Autor
Reinhard Krause-Rehberg, Hartmut S. Leipner
Seitenanzahl
383
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Defect Studies
Schlagwörter
annihilation, compounds, defects, positron, semiconductors, vacancies
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien
TGMT - Werkstoffprüfung
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Spektrum, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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