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Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray… scattering and X-ray residual stress analysis. All the theoretical methods presented use the unified physical approach. This makes the book especially useful for readers learning and performing data analysis with different techniques. The theory is applicable to studies of bulk materials of all kinds, including single crystals and polycrystals as well as to surface studies under grazing incidence. The book appeals to researchers and graduate students alike. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
27.08.2016
Sprache
Englisch
EAN
9783662520543
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Series in Materials Science
Sonderedition
Nein
Autor
Andrei Benediktovich, Ilya Feranchuk, Alexander Ulyanenkov
Seitenanzahl
318
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Theory and Applications
Schlagwörter
X-ray polarizability, X-ray powder diffraction, X-ray reflectivity book, X-ray spectroscopy, X-ray theory explained, dynamical theory of diffraction, grazing-incidence diffraction, materials analysis, theory of X-ray diffraction in crystals, x-ray diffraction theory
Thema-Inhalt
PDD - Wissenschaftliche Standards, Normung usw.
TGMT - Werkstoffprüfung
PHU - Mathematische Physik
PHV - Angewandte Physik
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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