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Bücher Englische Bücher Wissen & Bildung Naturwissenschaft, Medizin, Informatik, Technik Technik Elektronik, Elektro- und Nachrichtentechnik Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
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Der Umwelt zuliebe
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Elie Maricau, Georges Gielen (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on… analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed.
The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
09.01.2013
Sprache
Englisch
EAN
9781461461623
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Analog Circuits and Signal Processing
Sonderedition
Nein
Autor
Elie Maricau, Georges Gielen
Seitenanzahl
198
Auflage
1
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Schlagwörter
Analog Circuits and Signal Processing, Analog Integrated Circuits, Failure-resilient Analog Circuit Design, Reliability in Analog Integrated Circuits, Reliability in Nanometer CMOS, Transistor Aging Effects on Circuit Reliability
Thema-Inhalt
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
TJF - Elektronik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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