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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Mathias Schubert (Gebundene Ausgabe, Englisch)
Optischer Zustand
Beschreibung
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of… multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects. A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
26.11.2004
Sprache
Englisch
EAN
9783540232490
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Springer Tracts in Modern Physics
Sonderedition
Nein
Autor
Mathias Schubert
Seitenanzahl
196
Einbandart
Gebundene Ausgabe
Buch Untertitel
Phonons, Plasmons, and Polaritons
Schlagwörter
Anisotropy, Blende, Free-charge carriers, HTS, Infrared ellipsometry, Polaritons, Semiconductor, ellipsometry, spectroscopy
Thema-Inhalt
PHK - Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus
TGM - Materialwissenschaft
TGMM - Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien
PHJL - Laserphysik
TBC - Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Höhe
232 mm
Breite
15.5 cm
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