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Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Dongwoo Hong, Kwang-Ting Cheng (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a… communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
01.03.2012
Sprache
Englisch
EAN
9789400730946
Herausgeber
Springer Netherland
Serien- oder Bandtitel
Lecture Notes in Electrical Engineering
Sonderedition
Nein
Autor
Dongwoo Hong, Kwang-Ting Cheng
Seitenanzahl
98
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
BER Estimation, Clock and Data Recovery (CDR), Design-for-Test (DFT), Hardware, High Speed IO Test, Integrated Circuits, Interface, Jitter Measurement
Thema-Inhalt
UK - Computerhardware
TJFC - Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
UYF - Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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