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Beschreibung
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions – such as the Helium Ion Microscope (HIM) – are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered include the principles, operation, and performance of the Gaseous Field Ion Source (GFIS), and a Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
14.09.2013
Sprache
Englisch
EAN
9781461486596
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
SpringerBriefs in Materials
Sonderedition
Nein
Autor
David C. Joy
Seitenanzahl
64
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Principles and Applications
Schlagwörter
Backscattered ion imaging, Detecting ion beam signals, HIM, HIM charging and damage, HIM with a GFIS, HIM with a GFIS, practical issues, Helium Ion Microscopy, Helium ion microscopy how-to, Helium ion microscopy operation, Helium ion microscopy user guide, Helium ion microscopy, introduction, Imaging depth of field, Ion channeling contrast, Ion Beam Induced Charging, Ion Beams, Ion Generated Damage, Ion Induced Secondary Electrons, Ion generated secondary electrons, Ion –Solid Interactions and Image Formation, Microanalysis with the HIM, Microscopy with ions, history of, Patterning and Nanofabrication, HIM, SE and iSE comparison, SE vs. iSE, Scanning Ion Beam Microscope, Scanning Transmission Ion Microscopy, Secondary Ion Mass Spectrometry, Sputter Damage, The interaction volume, Topographic contrast in the HIM, iSE
Thema-Inhalt
TGMT - Werkstoffprüfung
PNFS - Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
TBN - Nanotechnologie
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
PDT - Nanowissenschaften
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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