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Der Umwelt zuliebe

Acoustic Scanning Probe Microscopy

(Broschiert, Englisch)

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Optischer Zustand
Beschreibung
The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
09.11.2014
Sprache
Englisch
EAN
9783642430794
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
NanoScience and Technology
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
494
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
AFAM calibration, AFM instrumental capabilities, Scanning Microdeformation Microscopy, acoustic microscopy techniques, acoustic properties of materials, biological nanoanalysis, cantilever dynamics, dynamics modelling, holography calibration, mechanical characterization, mechanical properties of materials, nanoanalysis, quantitative characterization, scanning probe microscopy, surface mapping
Thema-Inhalt
PHJL - Laserphysik TJF - Elektronik PHDS - Wellenmechanik (Vibration und Akustik) TBN - Nanotechnologie TGMT - Werkstoffprüfung TGM - Materialwissenschaft
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

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