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Surface Infrared and Raman Spectroscopy
W. Suëtaka (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It will provide a compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems… associated with the bombardment of solid sur faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr. 106,99 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
22.05.2013
Sprache
Englisch
EAN
9781489909442
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
Methods of Surface Characterization
Sonderedition
Nein
Autor
W. Suëtaka
Seitenanzahl
270
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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