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Statistical Data Analysis Based on the L1-Norm and Related Methods

(Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
This volume contains a selection of invited papers, presented to the fourth In Statistical Analysis Based on the L1-Norm and Related ternational Conference on Methods, held in Neuchatel, Switzerland, from August 4-9, 2002. Organized jointly by the University of Illinois at Chicago (Gib Bassett), the Rutgers University (Regina Liu and Yehuda Vardi) and the University of Neuchatel (Yadolah Dodge), the conference brought together experts whose research deals with theory and ap plications involving the L1-Norm. The conference included invited and contributed talks as well as a tutorial on Quantile Regression. This volume includes 36 refereed invited papers under seven headings. Part one deals with Quantiles in all their forms and shapes. It includes papers on quantile functions in non-parametric multivariate analysis, and empirical applications of quantile regression. Much of the development in this direction follows from the fundamental paper by Koenker and Bassett in 1978. Financial and Time Series A nalysis follows the section on quantiles. Part three concerns Estimation, Testing and Characterization. Part four, Deep in the Data, deals with issues related to data depth. Part five addresses Classification questions. The problem of Density Estimation and Image Processing is discussed in Part six, and finally Part seven presents two environmental applications. The contributions represent clear evidence of important research involving theo retical issues and applications associated with the L1-Norm. It is my hope that the articles contained in this volume and its predecessors, published in 1987, 1992, and 1997, will stimulate interest among researchers.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
01.11.2012
Sprache
Englisch
EAN
9783034894722
Herausgeber
Springer Basel
Serien- oder Bandtitel
Statistics for Industry and Technology
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
456
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
calculus, data analysis, probability, probability theory, statistical theory
Thema-Inhalt
PBT - Wahrscheinlichkeitsrechnung und Statistik PBWL - Stochastik
Höhe
254 mm
Breite
17.8 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Birkhäuser, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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