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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Brent Fultz, James Howe (Gebundene Ausgabe, Englisch)
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Beschreibung
This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All… chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
14.10.2012
Sprache
Englisch
Originalsprache
Englisch
EAN
9783642297601
Herausgeber
Springer Berlin
Serien- oder Bandtitel
Graduate Texts in Physics
Sonderedition
Nein
Autor
Brent Fultz, James Howe
Seitenanzahl
764
Auflage
4
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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