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Bücher Wissen & Bildung Naturwissenschaft, Medizin, Informatik, Technik Chemie Theoretische Chemie Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
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Der Umwelt zuliebe
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel (Broschiert, Deutsch)
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Beschreibung
In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflächenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Maße für die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und häufig mit einander kombiniert werden, nämlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch… nicht von einem Autor verfaßt, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter schiedlichen Spezialkenntnissen zurück. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver mittlung von theoretischem und experimentellem Wissen auf entsprechendem Niveau für die jeweiligen methodischen Teilgebiete. Anderseits ergeben sich dadurch gewisse Unterschiede in der Darstellungsweise und Symbolik zwischen den drei Kapiteln. Dies ist aber sicherlich von untergeordneter Bedeutung im Vergleich zu der durch Experten zu vermittelnden inhaltlichen Substanz. Die einzelnen Kapitel behandeln SIMS, AES und XPS hinsichtlich methodischem Prinzip, physikalischen Grundlagen, Gerätetechnik, amilytischem Informationsgehalt, qualitativer und quantitativer Analyse und praktischem Einsatz für aktuelle Frage stellungen der Oberflächenanalyse von Festkörpern - insbesondere aus dem Bereich der Werkstoffentwicklung. Die in den einzelnen Kapiteln angeführten Ergebnisse wurden im übrigen mit Hochleistungsgeräten der neuesten Generation erhalten, so daß der derzeitig aktuelle Leistungsstand der- Methodik dargestellt wird. Der Leser soll damit nicht nur eine Methode im Detail kennenlernen können, sondern auch durch die Anführung zahlreicher für das experimentelle Arbeiten wichtiger Daten einen Einstieg in den praktischen Einsatz der Methoden erhalten. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Der Umwelt zuliebe
Technische Daten
Erscheinungsdatum
06.12.2011
Sprache
Deutsch
EAN
9783642701788
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel
Seitenanzahl
302
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Thema-Inhalt
PNF - Analytische Chemie
PNK - Anorganische Chemie
PNR - Physikalische Chemie
Höhe
244 mm
Breite
17 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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