Bis zu 50 % günstiger als neu 3 Jahre rebuy Garantie Professionelles Refurbishment
ElektronikMedien
Tipps & News
AppleAlle anzeigen
TabletsAlle anzeigen
HandyAlle anzeigen
Fairphone
AppleAlle anzeigen
iPhone Air Generation
GoogleAlle anzeigen
Pixel Fold
HonorAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
Honor SerieY-Serie
NothingAlle anzeigen
OnePlusAlle anzeigen
OnePlus 11 GenerationOnePlus 12 Generation
SamsungAlle anzeigen
Galaxy XcoverWeitere Modelle
SonyAlle anzeigen
Weitere Modelle
XiaomiAlle anzeigen
Weitere Modelle
Tablets & eBook ReaderAlle anzeigen
Google
AppleAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
MatePad Pro Serie
MicrosoftAlle anzeigen
XiaomiAlle anzeigen
Kameras & ZubehörAlle anzeigen
ObjektiveAlle anzeigen
System & SpiegelreflexAlle anzeigen
WearablesAlle anzeigen
Fitness TrackerAlle anzeigen
SmartwatchesAlle anzeigen
Xiaomi
Konsolen & ZubehörAlle anzeigen
Lenovo Legion GoMSI Claw
NintendoAlle anzeigen
Nintendo Switch Lite
PlayStationAlle anzeigen
XboxAlle anzeigen
Audio & HiFiAlle anzeigen
KopfhörerAlle anzeigen
FairphoneGoogle
LautsprecherAlle anzeigen
Beats by Dr. DreGoogleYamahatonies
iPodAlle anzeigen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Automatic Modeling and Fault Diagnosis of Timed Concurrent Discrete Event Systems

Stefan Schneider (Broschiert, Englisch)

Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
The productive operation of machines and facilities is of great economic importance for industrial companies. In order to achieve high productivity, unscheduled production downtimes induced by faults need to be minimized. In this work, an approach for modelbased fault diagnosis of timed concurrent Discrete Event Systems is proposed that can contribute to this aim. The models are automatically determined by timed identification and partitioning. These approaches allow for efficient modeling of large and complex industrial systems with concurrent behavior requiring only little system knowledge. The work explains the theoretical and practical aspects of the presented approaches and gives a detailed evaluation based on a laboratory manufacturing system.
Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
ab 28,99 €
Derzeit nicht verfügbar
Derzeit nicht verfügbar

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Technische Daten


Erscheinungsdatum
30.05.2015
Sprache
Englisch
EAN
9783832539818
Herausgeber
Logos Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Stefan Schneider
Seitenanzahl
186
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Automatische Modellierung und Fehlerdiagnose zeitlicher nebenläufiger ereignisdiskreter Systeme
Schlagwörter
Model-based fault diagnosis / Modellbasierte Fehlerdiagnose, Model identification / Modellidentifikation, Discrete Event Systems / Ereignisdiskrete Systeme, Timed automata / Zeitbasierte Automaten, Concurrent systems / Nebenläufige Systeme
Thema-Inhalt
TBM - Instrumente und Instrumentierung PDG - Industrielle Anwendungen der wissenschaftlichen Forschung und technologische Innovation PDM - Wissenschaftliche Forschung GPH - Datenwissenschaft und -analyse: allgemein UXT - Computeranwendungen in Industrie und Technologie UY - Informatik
Höhe
210 mm
Breite
14.5 cm

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Sicher bei rebuy kaufen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!
Sicher bei rebuy kaufen