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Beschreibung
Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the “traditional” method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics , an alternative approach is introduced. In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes: solutions to several common reliability issues in microsystem technology, methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA. Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
13.01.2012
Sprache
Englisch
EAN
9781447124696
Herausgeber
Springer London
Serien- oder Bandtitel
Microsystems
Sonderedition
Nein
Autor
Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti
Seitenanzahl
218
Auflage
2012
Einbandart
Gebundene Ausgabe

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Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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