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VLSI Design and Test

(Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
18.08.2019
Sprache
Englisch
EAN
9789813297661
Herausgeber
Springer Singapore
Serien- oder Bandtitel
Communications in Computer and Information Science
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
775
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Schlagwörter
artificial intelligence, authentication, cryptography, data security, energy efficiency, Field Programmable Gate Array (FPGA), FPGA, hardware, image processing, integrated circuit layout, integrated circuit testing, logic gates, microprocessor chips, signal processing, telecommunication networks, telecommunication traffic, vlsi circuits, wireless networks, wireless sensor networks, wireless telecommunication systems
Thema-Inhalt
UK - Computerhardware UYQ - Künstliche Intelligenz UR - Computersicherheit UTN - Netzwerksicherheit UYQV - Maschinelles Sehen, Bildverstehen UYA - Theoretische Informatik
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Transparenz & Sicherheit

Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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