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IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958
(Broschiert, Deutsch)
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Beschreibung
Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro skopie, der unter den Auspizien der International Federation of Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige… Diskussionsbemerkungen, vor mehr als I 000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treubleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der I. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein schließlich der Präparationstechnik. Der II. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Frages'tellungen und über die entsprechenden Präparationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Dieses Produkt haben wir gerade leider nicht auf Lager.
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
04.12.2014
Sprache
Deutsch
EAN
9783642501968
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Seitenanzahl
851
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Buch Untertitel
Band 1: Physikalisch-technischer Teil
Schlagwörter
Elektron, Elektronenmikroskopie, Energie, Forschung, Geschichte, Konstruktion, Mikroskopie, Molekül, Rasterelektronenmikroskopie, Röntgenmikroskopie, Stabilität, Technologie, Transmissionselektronenmikroskopie, Verfahren, Wasserstoff
Thema-Inhalt
P - Mathematik und Naturwissenschaften
TBC - Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Höhe
279 mm
Breite
21 cm
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com
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