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Applied Charged Particle Optics

Helmut Liebl (Broschiert, Englisch)

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Beschreibung
Authored by a pioneer of the field, this overview of charged particle optics provides a solid introduction to the field for all physicists wishing to design their own apparatus or better understand the instruments with which they work. Applied Charged Particle Optics begins by introducing electrostatic lenses and fields used for acceleration, focussing and deflection of ions or electrons. Subsequent chapters give detailed descriptions of electrostatic deflection elements, uniform and non-uniform magnetic sector fields, image aberrations, and, finally, fringe field confinement. A chapter on applications is added.
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Technische Daten


Erscheinungsdatum
15.10.2010
Sprache
Englisch
EAN
9783642091032
Herausgeber
Springer Berlin
Sonderedition
Nein
Autor
Helmut Liebl
Seitenanzahl
131
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Electron beams, Electron spectrometry, Ion-beam optics, Mass spectroscopy, design, optics, spectroscopy, surface analysis
Thema-Inhalt
PHJL - Laserphysik TBC - Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Höhe
235 mm
Breite
15.5 cm

Hersteller: Springer Spektrum, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH

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