Bis zu 50 % günstiger als neu 3 Jahre rebuy Garantie Professionelles Refurbishment
ElektronikMedien
Tipps & News
AppleAlle anzeigen
TabletsAlle anzeigen
HandyAlle anzeigen
Fairphone
AppleAlle anzeigen
iPhone Air Generation
GoogleAlle anzeigen
Pixel Fold
HonorAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
Honor SerieY-Serie
NothingAlle anzeigen
OnePlusAlle anzeigen
OnePlus 11 GenerationOnePlus 12 Generation
SamsungAlle anzeigen
Galaxy XcoverWeitere Modelle
SonyAlle anzeigen
Weitere Modelle
XiaomiAlle anzeigen
Weitere Modelle
Tablets & eBook ReaderAlle anzeigen
Google
AppleAlle anzeigen
HuaweiAlle anzeigen
MatePad Pro Serie
MicrosoftAlle anzeigen
XiaomiAlle anzeigen
Kameras & ZubehörAlle anzeigen
ObjektiveAlle anzeigen
System & SpiegelreflexAlle anzeigen
WearablesAlle anzeigen
Fitness TrackerAlle anzeigen
SmartwatchesAlle anzeigen
Xiaomi
Konsolen & ZubehörAlle anzeigen
Lenovo Legion GoMSI Claw
NintendoAlle anzeigen
Nintendo Switch Lite
PlayStationAlle anzeigen
XboxAlle anzeigen
Audio & HiFiAlle anzeigen
KopfhörerAlle anzeigen
FairphoneGoogle
LautsprecherAlle anzeigen
Beats by Dr. DreGoogleYamahatonies
iPodAlle anzeigen

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Robust Model-Based Fault Diagnosis for Dynamic Systems

Jie Chen, R.J. Patton (Broschiert, Englisch)

Keine Bewertungen vorhanden
Optischer Zustand
Beschreibung
There is an increasing demand for dynamic systems to become more safe and reliable. This requirement extends beyond the normally accepted safety-critical systems of nuclear reactors and aircraft where safety is paramount important, to systems such as autonomous vehicles and fast railways where the system availability is vital. It is clear that fault diagnosis (including fault detection and isolation, FDI) has been becoming an important subject in modern control theory and practice. For example, the number of papers on FDI presented in many control-related conferences has been increasing steadily. The subject of fault detection and isolation continues to mature to an established field of research in control engineering. A large amount of knowledge on model-based fault diagnosis has been ac cumulated through the literature since the beginning of the 1970s. However, publications are scattered over many papers and a few edited books. Up to the end of 1997, there is no any book which presents the subject in an unified framework. The consequence of this is the lack of "common language", dif ferent researchers use different terminology. This problem has obstructed the progress of model-based FDI techniques and has been causing great concern in research community. Many survey papers have been published to tackle this problem. However, a book which presents the materials in a unified format and provides a comprehensive foundation of model-based FDI is urgently needed.
320,99 €
Broschiert | Neu

oder

Auf Lager Versandbereit in 2-3 Werktagen
zzgl.

Du kannst wie immer einen Kaufalarm setzen, wenn du auf das gebrauchte Buch warten möchtest.

Auf Lager Versandbereit in 2-3 Werktagen
zzgl.

Handgeprüfte Gebrauchtware

Bis zu 50 % günstiger als neu

Der Umwelt zuliebe

Technische Daten


Erscheinungsdatum
02.11.2012
Sprache
Englisch
EAN
9781461373445
Herausgeber
Springer US
Serien- oder Bandtitel
The International Series on Asian Studies in Computer and Information Science
Sonderedition
Nein
Autor
Jie Chen, R.J. Patton
Seitenanzahl
356
Auflage
1
Einbandart
Broschiert

Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, ProductSafety@springernature.com

Warnhinweise und Sicherheitsinformationen

Informationen nach EU Data Act

-.-
Leider noch keine Bewertungen
Leider noch keine Bewertungen
Schreib die erste Bewertung für dieses Produkt!
Wenn du eine Bewertung für dieses Produkt schreibst, hilfst du allen Kund:innen, die noch überlegen, ob sie das Produkt kaufen wollen. Vielen Dank, dass du mitmachst!