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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
DAISUKE Shindo, T. Oikawa (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent… hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation. 53,49 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
20.09.2002
Sprache
Englisch
EAN
9784431703365
Herausgeber
Springer Tokyo
Sonderedition
Nein
Autor
DAISUKE Shindo, T. Oikawa
Seitenanzahl
152
Einbandart
Broschiert
Schlagwörter
Inelastic scattering, advanced materials, crystal, crystallography, electron, electron microscope, energy filtering, materials science, microscopy, nanotechnology, scattering
Thema-Inhalt
PHFC - Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
Höhe
280 mm
Breite
21 cm
Transparenz & Sicherheit
Hersteller: Springer, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com, Springer Nature Customer Service Center GmbH
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