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Functional Design Errors in Digital Circuits
Kai-hui Chang, Igor L. Markov, Valeria Bertacco (Broschiert, Englisch)
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Beschreibung
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis
covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of… errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 160,49 €
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Technische Daten
Erscheinungsdatum
28.10.2010
Sprache
Englisch
EAN
9789048181124
Herausgeber
Springer Netherland
Serien- oder Bandtitel
Lecture Notes in Electrical Engineering
Sonderedition
Nein
Autor
Kai-hui Chang, Igor L. Markov, Valeria Bertacco
Seitenanzahl
200
Auflage
1
Einbandart
Broschiert
Hersteller: Springer Nature Customer Service Center GmbH, Europaplatz 3, Heidelberg, Deutschland, 69115, ProductSafety@springernature.com
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